薄膜體積表面電阻率試儀典型應(yīng)用

1、測量絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測量

6、物理,光學和材料研究

標準配置:

1、測試儀器:1臺

2、.電源線:1條

3、測量線:3根(屏蔽線、測試接線、接地線)

4、使用說明書:1份

備注:

本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻

率或電導率,符合國家標準GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試

驗方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法 等標準要求。

薄膜體積表面電阻率試儀技術(shù)指標

1、電阻測量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流測量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式:數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度:1% (*注)

6、使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

重要性和用途絕緣材料用于電子系統(tǒng)彼此和與地面之間隔離，該材料能提供零部件的機械支撐。由于此用途，通常要求具有盡可能高的絕緣電阻，以與可接受的機械、化學和耐熱性能*。因為絕緣電阻或電導組合了體積和表面電阻或電導，當實際使用時，要求試驗樣本和電有相同的形式，此時的測量值是非常有用的。表面電阻或電導隨著濕度發(fā)生快速變化，然而體積電阻或電導則稍微變化，盡管總的變化在一些變化可能更大。電阻或電導可用于間接預測某些材料的低頻率電介質(zhì)擊穿和損耗因數(shù)性能。電阻或電導通常作為濕度含量，固化程度，機械連續(xù)性或不同類型老化的間接測量方式。這些間接測量的效用取決于通過理論或經(jīng)驗研究確立的相關(guān)度。表面電阻的降低可導致因為電場強度降低而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的增加，或者由于應(yīng)力面積的增加而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的降低。

所有的電介質(zhì)電阻或電導都取決于電化時間長短和施加的電壓值（除了普通的環(huán)境變量之外）。這些因素必須已知，同時報告，以使得電阻或電導測量值有意義。在電絕緣材料工業(yè)中，形容詞“表觀"通常適用于在任意選擇電化時間條件下獲得的電阻值。體積電阻或電導可通過在特定應(yīng)用場合設(shè)計某個絕緣體使用的電阻和尺寸數(shù)據(jù)計算得出。研究已經(jīng)表明電阻或電導隨著溫度和濕度的變化而變化（1,2,3,4）4，同時在設(shè)計工作條件時，必須已知這種變化。體積電阻或電導測量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性，或者對于加工，可探測影響材料質(zhì)量的導電雜質(zhì)，而這不容易通過其它方法觀察到。體積電阻超過1021Ω·cm(1019Ω·cm)時，樣本在普通實驗室條件測試獲得的數(shù)值計算得出體積電阻，如果結(jié)果確實可疑，則應(yīng)考慮通常使用的測量設(shè)備的局限性。表面電阻或電導不能準確測量，只能近似測量，因為體積電阻或電導總是受到測量方法的影響。測量值還受到表面污染的影響。表面污染及其積聚速度受到許多因素的影響，包括靜電充電和界面張力。這些因素反過來可以影響表面電阻。當包括污染，但是在通常常識下判斷不是電絕緣材料的材料性能時，此時表面電阻或電導可視為與材料性能相關(guān)。

電極系統(tǒng)絕緣材料的電極將允許親密接觸樣本表面，同時不會由于電極電阻或樣本的污染（5）而引入相當可觀的誤差。電極材料應(yīng)在試驗條件下能耐腐蝕。當對制造樣本進行測試時，例如連接襯套，線纜等等，采用的電極作為樣本或其裝配組件的一部分。在這類場合，絕緣電阻或電導的測量值此時包括電極或安裝材料的污染影響，同時在實際使用時通常與樣本性能有關(guān)。3括號里的粗體數(shù)字參閱這些試驗方法附屬的參考文獻清單。