—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 電阻測(cè)試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 拉力試驗(yàn)機(jī)
- 總有機(jī)碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 完整性測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
- 磨擦磨損試驗(yàn)機(jī)
- 耐電弧試驗(yàn)儀
- 門尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 垂直燃燒試驗(yàn)儀
- 熱老化試驗(yàn)箱
- 氧指數(shù)試驗(yàn)儀
- 泡沫落球回彈試驗(yàn)儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動(dòng)沖片機(jī)
- 啞鈴制樣機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 阿克隆摩擦試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 海綿落球回彈率測(cè)試儀
- 塑料球壓痕硬度計(jì)
- 毛細(xì)管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀
- 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
- 熔體流動(dòng)速率儀
- 平板硫化機(jī)
- 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 微量水分測(cè)定儀
- 制樣機(jī)
- 灼熱絲試驗(yàn)儀
- 疲勞沖擊測(cè)試儀
- 缺口制樣機(jī)
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗(yàn)箱
- 可塑性試驗(yàn)機(jī)
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
- 鼓風(fēng)干燥箱
- 邵氏硬度計(jì)
- 海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
高頻介電常數(shù)介損的使用方法
大家在日常使用高頻介電常數(shù)介損的時(shí)候不熟悉具體如何操作的,下面我來為大家介紹一下:
1平板電容器動(dòng)極片 2 平板電容器定極片
3 有棘輪測(cè)力功能的調(diào)節(jié)桿,當(dāng)二電極夾持樣品具有一定壓力時(shí),棘輪會(huì)發(fā)出“咯咯"聲,表明壓力合適。
4 高電平接插件 5 低電平接插件 6 ON/OFF---SET 鍵
7 ABS/INC---UNIT 鍵 8 數(shù)據(jù)輸出鍵
9 RS232數(shù)據(jù)輸出口(LCD屏背面) 10 電池蓋(LCD屏背面)
把被測(cè)樣品用鉗子置于平板電容器的動(dòng)極片(1)和定極片(2)之間,調(diào)節(jié)平板電容器的測(cè)微頭,到二極片夾住樣品止。這時(shí)數(shù)顯測(cè)微頭顯示的數(shù)值即為樣品厚度(ta)。為消除樣品和極片之間間隙,可轉(zhuǎn)動(dòng)樣品多次測(cè)量,樣品厚度以最小值為準(zhǔn),如樣品有雙層金屬薄膜,計(jì)算ta要減去2倍薄膜厚度.。
4.5.4 調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器,使其諧振,此時(shí)讀取Q值記為Q1,調(diào)諧電容的刻度記為C1。
4.5.5 松開平板電容器極片,取出被測(cè)樣品,然后平板電容器仍在置于有樣品時(shí)的實(shí)際厚度值(ta),保持極片實(shí)際距離和有樣品時(shí)一致。
4.5.6 再次調(diào)節(jié)Q表的調(diào)諧電容器,再次諧振,此時(shí)讀取的Q值為Qo(Qo總是比Q1高,對(duì)優(yōu)質(zhì)絕緣材料,二者較接近,要仔細(xì)調(diào)諧,要使用Q表的“Q記憶"功能。調(diào)諧電容的刻度記為C0(C0總是比C1大)對(duì)低介電常數(shù)材料,電容值變化較小,要仔細(xì)讀取電容變化值。使用WY2852DQ表時(shí)要使用△C功能,當(dāng)然使用WY2852A或WY2853A型自動(dòng)Q表則得到更精確的電容變化值,因?yàn)樽詣?dòng)Q表提高了電容值刻度讀數(shù)的分辯率,提高測(cè)試ε正確度。
4.5.7試樣的損耗因數(shù)計(jì)算公式為:
注意:在操作中要十分注意樣品的清潔,要戴手套或用鑷子取放樣品。
下面推薦一種能提高測(cè)試精確性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜或鋁膜。直徑和平板電容器極片一致,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘附作用,又能排除接觸面之間殘余空氣。然后把錫膜再粘在被測(cè)樣品上或平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后要仔細(xì)平整,使平面呈鏡面狀為佳。
4.4 測(cè)試前準(zhǔn)備:
先要詳細(xì)了解本裝置配用Q表的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響,即調(diào)節(jié)本裝置時(shí),手臂盡可能離開本裝置。
4.4.1檢查測(cè)試裝置二極片平行度。
a) 本測(cè)試裝置的動(dòng)極片和定極片的平行度應(yīng)優(yōu)于0.02mm。也可以測(cè)量二極片之間的電容量來檢查,當(dāng)測(cè)試裝置測(cè)微頭置于0.02mm時(shí),用數(shù)字電橋測(cè)得電容值300-500 pF之間即認(rèn)為符合平行度要求。
b) 本測(cè)試裝置在出廠前已完成平行度測(cè)試。裝置如長(zhǎng)期不用或受到?jīng)_擊等原因,需要重新返廠調(diào)整,用戶不得擅自調(diào)整。本裝置底部有三個(gè)調(diào)節(jié)螺釘,但一定要具備相應(yīng)設(shè)備才能進(jìn)行,否則會(huì)損壞本裝置。
4.4.2檢查Q表是否正常工作
a ) 將250-350μH電感器(一般先用250μH),接在Q表“Lx"接線柱上。
b) 頻率調(diào)至1MHz。
c ) 微調(diào)電容器置于“0pF"處(只有WY2852D,WY2851D 有微調(diào)電容),調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容器,使其諧振,Q值應(yīng)指示在180左右,調(diào)諧電容值刻度在100pF附近,表示Q表處于正常工作狀態(tài)。
4.5 國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,推薦Q表法測(cè)試絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)和介電常數(shù)程序:
4.5.1 先完成4.3和4.4條規(guī)定的測(cè)試前準(zhǔn)備基礎(chǔ)上進(jìn)行正常測(cè)試。
4.5.2 把本測(cè)試裝置WY916D插到Q表測(cè)試回路的“Cx"二個(gè)端子上(如下圖)。先調(diào)節(jié)測(cè)微頭(3),使二個(gè)極片相接觸,快速按ABS/INC鍵
1 概述
介質(zhì)損耗測(cè)試裝置和GDAT系列Q表(最佳Q表是WY2852A或W自動(dòng)Q表)及電感器配用。能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
2 工作特性
2.1 平板電容器:
2.1.1極片尺寸:
916D-38: φ38mm。
916D-50 φ50 mm。
2.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率:
≥7mm,±0.001mm
2.2 裝置插頭間距:
25mm±1mm
2.3 裝置損耗角正切值:
≤4×10-4(1MHz時(shí))
2.4 使用環(huán)境濕度要求※(非常重要):
相對(duì)濕度:<60%
3 工作原理
本測(cè)試裝置是由二塊圓形電極片組成平板電容器。平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品。平板狀的絕緣材料的損耗角正切值和介電常數(shù)是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q表Q值顯示變化量的大小以及調(diào)諧電容值變化。同時(shí),由平板電容器的數(shù)字測(cè)微頭測(cè)得樣品厚度而換算得到ε和tanδ值。自動(dòng)Q表的機(jī)內(nèi)計(jì)算機(jī)會(huì)自動(dòng)計(jì)算并顯示于彩屏上。
測(cè)量誤差主要來自二次指示器的標(biāo)定刻度,以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。
4.7 其他應(yīng)用使用方法:
使用本測(cè)試裝置和Q表配用,對(duì)絕緣材料以及其它高阻性能的薄材,例如:優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測(cè)量。其測(cè)試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用。采取被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的細(xì)微差別,例如含水量,配用原料變動(dòng)等等。
測(cè)試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)Q表頻率,諧振后讀得Q值。再換上被測(cè)樣品,調(diào)節(jié)Q表調(diào)諧電容器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品高頻損耗值一致,反之,說明二者性能有區(qū)別。
5 維修方法
本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備,所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,平時(shí)不使用最好在干燥瓶中存放。用戶不能自行拆裝。否則其工作性能就不能保證,如測(cè)試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查。要驗(yàn)測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo):
5.1 平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。
5.2 保證測(cè)微桿0.01mm分辨率。
5.3裝置損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz時(shí))
6 本公司主要產(chǎn)品介紹
6.1 高頻Q表系列
WY2851/A/D:0.05~50MHz,WY2852A/D型:1kHz~70MHz,WY2853A/D:0.05~160MHz
6.2 電視圖像信號(hào)發(fā)生器系列:
6.3 信號(hào)源系列,
6.4 毫伏表系列,
6.5 函數(shù)信號(hào)源,低頻信號(hào)源頻率計(jì)和LCR數(shù)字電橋系列等。